加入收藏|简体中文|ENGLISH
网站首页 > 产品中心 > 其他类 > 动态薄膜干燥度分析仪 > 正文动态薄膜干燥度分析仪

动态薄膜干燥度分析仪Horus

作者 Admin 浏览 发布时间 15/03/05


动态干燥度分析仪利用多散斑扩散波光谱学,在膜形成的过程中研究颗粒的运动。测量系统包括一个产生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的检测器。通过对膜的干燥动力学曲线的分析,可以得到有关膜形成过程中分子运动及重排等信息。

利用多散斑扩散波光谱学,在膜形成的过程中研究颗粒的运动。测量系统包括一个产生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的检测器。干涉的图像被称作散斑图像,由多像素检测器检测。

先进的干涉光斑光谱成像技术可以记录从粒子的从运动速度非常快(湿膜)到运动速度非常缓慢(干膜)的速度变化动态。变化的动力学过程可以通过流动性因子对时间的变化关系曲线进行量化。

可以测量不同基底:金属、塑料、玻璃、木头、混凝土、纸、薄膜…

-  可以测量膜的厚度 : 高达500 µm

-  数据:

1.   成膜动力学报告:流动性因子对时间的变化关系曲线

2.   根据膜的类型(水剂涂料或其他),自动计算特征点

3.  特征点的数据表摘要

4.  数据可以输出到excel表格中

主要规格

检测头:

光源:  650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

检测器: 背散射光接受 (MS-DWS多斑漫散射波光谱学)

测量平台:

防震平台

测量厚度: 厚达500 µm 膜厚度

数据采集:

可以从秒到数天. 最快可达30次采集/秒

 



首    页 公司概况 产品中心 技术支持 新闻中心 人才引进 联系我们
Copyright 2015-2016 版权所有:天津奥辛博科技有限责任公司 津ICP备19002142号-1 公安备案号:12010402000206 技术支持:亿鼎鑫网络